Galliumioonallikaga fokuseeritud ioonkiirega skaneeriva elektronmikroskoobi tarnimine, paigaldamine ja kasutuselevõtt

Kokkuvõte

Taani Tehnikaülikool (DTU) hangib Kgs. Lyngbys ühe galliumioonallikaga kahekiireplatvormiga fokuseeritud ioonkiirega skaneeriva elektronmikroskoobi (FIB-SEM), sealhulgas selle tarne, paigalduse, kasutuselevõtu ja vastuvõtmise. Seade on mõeldud mitme kasutajaga teadustööks ning võimaldab muu hulgas kõrglahutusega pinnakuvamist, ristlõigete tegemist, TEM-lamellide ettevalmistamist, 3D-tomograafiat, gaasiga toetatud sadestamist ja söövitamist ning elementanalüüsi. Hange hõlmab ka võimalusi täiendavate ToF-SIMS-i ja EDS-i tarkvaralitsentside, 4D-STEM-detektori ning inertgaasi- või vaakumülekandekambri hankimiseks.