SEM+FIB metroloogiasüsteem

Kokkuvõte

Hange puudutab ühe uue SEM+FIB metroloogiasüsteemi tarnimist TNO-le Eindhoveni High Tech Campusesse. Süsteemi kasutatakse materjalide freesimiseks või lõikamiseks, 3D-karakteriseerimiseks ja ristlõigete analüüsiks pooljuhtkihtidel. Leping hõlmab 24-kuulist garantiid koos hoolduse ja teenustega, projekteerimise ülevaatust, tehases ja objektil tehtavaid vastuvõtuteste, kasutuselevõttu ning tarnet DDP-tingimustel. Pärast garantiid võib TNO tellida hoolduslepingu, kulutarvikuid ja kuni teise süsteemi. Pakkumus tuleb esitada elektrooniliselt TenderNedi kaudu hiljemalt 7. septembril 2026 kell 12.00 ning see peab kehtima vähemalt 120 kalendripäeva. Kasutada tuleb hankija etteantud lisasid A01–A05. Hind on ainus hindamiskriteerium ja võitja selgitatakse madalaima koguhinna alusel. Eeldatav maksumus on 1 300 000 eurot käibemaksuta; üheaastase garantiijärgse hoolduslepingu hind ei tohi ületada 4% seadme hinnast.