Hanke detail
Millimeeterlainete interferomeetria mõõtesüsteem
Kokkuvõte
Hamburgi Tehnikaülikool hangib ühe millimeeterlainete interferomeetria mõõtesüsteemi kõrgsageduskomponentide, radarisüsteemide ja antennide iseloomustamiseks. Täielik ja kalibreeritav laboriseade peab võimaldama võrgustikuanalüüsi, spektri- ja signaalianalüüsi ning analoog- ja vektorsignaalide genereerimist nõutud sagedusalades kuni 170 GHz. Hange hõlmab tarnimist, integreerimist, kasutuselevõttu, esmast kalibreerimist, funktsionaalsuse kontrolli, juhendamist ja dokumentatsiooni ning süsteemi ühendamist olemasoleva radarsihtmärgi simulaatori, lähivälja skanneri ja V-riba antennimõõtmise taristuga.
Rohkem hankeinfot sisselogimisel
Avalik vaade näitab hanke põhiandmeid. Logi sisse, et avada ametlikud lingid, dokumendid ja AI hankeabi.